| 2.“逻辑器件测试”界面，“搜索”按钮即为芯片的识别功能。“请选择器件类型”里：含有TTL74系列，CMOS4000系列，CMOS4500系列三类测试库。“请选择器件型号”里即对应前述三类测试库的可测具体型号，如：TTL74系列里的7400,7447,74245；CMOS4000系列里的4020,4049；CMOS4500系列里的4538。 3.“搜索”识别功能，通常是在有些数字芯片的型号人为擦掉了或一时看不清楚了，均可以用到这个功能。不过如果识别不到被测芯片时要注意两点：1）被测芯片已经坏了；2）被测芯片的型号在当前这三类的测试库里没有。另外，“搜索”是按芯片功能进行检测的，当几种芯片功能基本一致时，它将均在“搜索结果”里显示出来。在不考虑其他因素的情况下，原则上它们是可以互换的。 4.一般测试只要在这三类库里选择待测芯片的型号，点击“测试”后，如被测芯片功能良好，那么界面会给出“测试结果：正常”，且报一声鸣响；反之，芯片有问题或芯片型号选择有误，这样测试界面将显示“测试结果：错误”，并报以三声鸣响。 5.“重复测试”功能为，当怀疑被测试的芯片带载能力有所下降，一般使用年头比较长了，就是长期使用的较旧的电路板上的数字芯片均有这个问题。所以可以给予多次重复的测试，以便观察待测试芯片是否有方面的问题。该功能的“重复测试”次数可达到近千次之多。 图7.正常芯片74245正在重复测试中6.请参看有关视频：《RF-2148编程器对TTL,CMOS芯片离线识别与功能测试》 |
