RF-2148编程器对TTLCMOS芯片离线识别与功能测试

2020-11-11 03:53| 发布者: |

  2.“逻辑器件测试”界面,“搜索”按钮即为芯片的识别功能。“请选择器件类型”里:含有TTL74系列,CMOS4000系列,CMOS4500系列三类测试库。“请选择器件型号”里即对应前述三类测试库的可测具体型号,如:TTL74系列里的7400,7447,74245;CMOS4000系列里的4020,4049;CMOS4500系列里的4538。

  3.“搜索”识别功能,通常是在有些数字芯片的型号人为擦掉了或一时看不清楚了,均可以用到这个功能。不过如果识别不到被测芯片时要注意两点:1)被测芯片已经坏了;2)被测芯片的型号在当前这三类的测试库里没有。另外,“搜索”是按芯片功能进行检测的,当几种芯片功能基本一致时,它将均在“搜索结果”里显示出来。在不考虑其他因素的情况下,原则上它们是可以互换的。

  4.一般测试只要在这三类库里选择待测芯片的型号,点击“测试”后,如被测芯片功能良好,那么界面会给出“测试结果:正常”,且报一声鸣响;反之,芯片有问题或芯片型号选择有误,这样测试界面将显示“测试结果:错误”,并报以三声鸣响。

  5.“重复测试”功能为,当怀疑被测试的芯片带载能力有所下降,一般使用年头比较长了,就是长期使用的较旧的电路板上的数字芯片均有这个问题。所以可以给予多次重复的测试,以便观察待测试芯片是否有方面的问题。该功能的“重复测试”次数可达到近千次之多。

  图7.正常芯片74245正在重复测试中6.请参看有关视频:《RF-2148编程器对TTL,CMOS芯片离线识别与功能测试》

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